[可靠性试验论文]恒定失效率假设下的电子产品可靠性验证试验

本文作者：郑俊钦；成功正常投稿发表论文到《海峡科学》2015年04期,引用请注明来源400期刊网！
【摘要】：该文介绍电子产品的失效规律及可靠性验证试验,并根据标准GB5080.7-86《设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案》,以实例说明电子产品在恒定失效率假设下的可靠性验证试验方法。从身处检测一线的工作人员视角,坚持理论与实践相结合,深入浅出,简繁有序,以实例阐述说明理论,简明易懂。
【论文正文预览】：1定义与术语说明(1)产品的可靠性:是指产品在规定的条件下,在规定的时间内完成规定的功能的能力。通俗的说,产品的可靠性越高,产品的无故障工作时间就越长。(2)验证试验:证明产品的特性或性能是否符合其规定可靠性要求的试验。(3)鉴别比:比率D(D1),表征试验方案区分可接受可
【文章分类号】：TN06
【稿件关键词】：失效规律可靠性验证试验电子产品
【参考文献】:

• 许彦鑫;陆培永;;基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨[J];电子产品可靠性与环境试验;2010年02期

【稿件标题】：[可靠性试验论文]恒定失效率假设下的电子产品可靠性验证试验
【作者单位】：福建省电子产品监督检验所;
【发表期刊期数】：《海峡科学》2015年04期
【期刊简介】：《海峡科学》杂志是由中华人民共和国新闻出版总署、正式批准公开发行的优秀期刊，海峡科学杂志具有正规的双刊号，其中国内统一刊号：CN35-1292/N，国际刊号：ISSN1673-8683。海峡科学杂志社由福建省科学技术协会主管、学会杂志社主办，本刊为月刊。自创刊以来......更多海峡科学杂志社(http://www.400qikan.com/qk/11202/)投稿信息
【版权所有人】：郑俊钦；

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